光致发光光谱成像测量系统技术特点

【技术特点】-- 光致发光光谱成像测量系统

主要特点：
◆ PLMapping测量
◆ 多种激光器可选
◆ Mapping扫描速度：180点/秒
◆ 空间分辨率：50um
◆ 光谱分辨率：0.1nm@1200g/mm
◆ Mapping结果以3D方式显示
◆ zei大8

【技术特点对用户带来的好处】-- 光致发光光谱成像测量系统

【典型应用举例】-- 光致发光光谱成像测量系统