ATGX310系列_光学薄膜...

ATGX310系列_光学薄膜厚度测量仪参数指标

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规格及参数

光学系统

标准氘卤组合灯光源

准直照明,积分球接收

接收器:微型光纤光谱仪

波长范围:200-1100

测量范围:0-100%

 

技术参数

波长准确度 ±0.5nm

波长重复性 ≤0.2nm

光谱带宽 1nm

杂散光 ≤0.05%

透射比准确度 ±0.5%

透射比重复性≤0.5%


ATGX310规格参数表





型号

ATGX310-VIS

ATGX310-XR

ATGX310-DUV

ATGX310-NIR

测量波长范围

400-850nm

250-1060nm

190-1100nm

900-1700nm

厚度范围

50nm-20um

10nm-100um

1nm-100um

100nm-250um

厚度分辨率

0.1nm

0.1nm

0.1nm

0.1nm

重复性

0.3nm

0.3nm

0.3nm

1.0nm

入射角

90度

90度

90度

90度

膜厚层数

至多10层

至多10层

至多10层

至多10层

样品材料

透明或半透明薄膜

透明或半透明薄膜

透明或半透明薄膜

透明或半透明薄膜

测量模式

反射和透射

反射和透射

反射和透射

反射和透射

粗糙膜厚测量

可以

可以

可以

可以

测量速度

最短1ms

最短1ms

最短1ms

最短1ms

是否能在线

光斑尺寸

标准:200um或400um

标准:200um或400um

标准:200um或400um

标准:200um或400um

定制:100um

定制:100um

定制:100um

定制:100um


显微镜搭配

可以

可以

可以

可以

CCD成像

可以

可以

可以

可以

扫描选择

150mmX300mm

150mmX300mm

150mmX300mm

150mmX300mm

xy扫描平台

xy扫描平台

xy扫描平台

xy扫描平台


真空兼容



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