技术参数：SX-HS系列探测器技术规格
SX30-HS
SX85-HS
探测面有效面积
30 mm × 30 mm
85 mm × 85 mm
像素尺寸（标准2×2形式）
32 μm
89 μm
点扩散函数，半高宽
100 μm （标准荧光体）；
~25μm（高分辨，定制荧光体）
~65μm（高分辨，定制荧光体）
暗电流
0.003 e- /像素/秒
或 0.00004 光子/像素/秒 (12keV)
或 0.0003 光子/像素/秒 (12keV)
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