电镀用X射线荧光分析参数指标

• 根据DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度

• XULM的最小测量点约0.1 mm；XUL最小测量点约0.5 mm

• 钨X射线管或钨微聚焦管（XULM）作为X射线源

• 采用经实践验证的短测量时间的比例接收器

• 准直器：固定或4个自动切换

• 初级过滤器：固定或3个自动切换

• 固定样品台或手动XY载物台

• 用于光学观察测量点的摄像头

• 经认证的全面防护设计；

• 电镀层，例如铁上的锌或铁上的锌镍，用于大批量生产的零件（螺母和螺栓）的腐蚀防护

• 电镀液中金属含量的分析

• 装饰性涂层 Cr/Ni/Cu/ABS

• >电子行业连接器和触点上的镀层

FISCHERSCOPE®X射线XUL®系列正是每个电镀车间的基础设备。这些简单易用且价格适中的能量色散X射线荧光分析仪非常适合监控镀液成分，但在质量控制方面也是不可或缺的帮手：坚固耐用，非常适合测量批量生产的零件（如螺母和螺栓）上的电镀层 。

XUL/XULM系列的所有X射线光谱仪操作简单直观。较大的样品可以简单地手动放在测量室中；或者，对于较小的物品（例如插头），仪器可以配备手动样品台。尽管测量设备紧凑，但它们为您的试样提供了足够的空间-高度可达17厘米。

如果您有多种不同的测量任务，FISCHERSCOPE X射线XULM拥有可互切换的过滤器和准直仪，因此您可以为所有应用创造最佳的测量条件。 此外，XULM具有内置的微聚焦管，即使在测量点微小和镀层很薄的情况下也能提供精确的结果。