商品参数
镀层厚度分析方法:能量色散X射线荧光分析方法
测量镀层范围:0-50um
检测镀层种类:铜镀银、铜镀锡
分析精度:单层电镀相对误差不超过10%
检测时间:15-20秒
检测窗口:12mm
合金测试元素范围:Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Hf,Ta,W,Re,Pb,Bi,Zr,Nb,Mo,Cd,Sn,Sb等23元素
仪器参数:
1、激发源:大功率微型直板电子X射线管,激发电压为35kV;无高压电缆、无射频噪声、更好的X射线屏蔽、更好的散热。
固定电压35kV,电流100uA(美国Moxtek),标配Ag靶,无电机、1个滤光片
2、探测器:Si-pin探测器(6 mm2 能量分辨率190eV FWHM)
3、运算方法:KMX-FP无标样测试法
4、标配1个电池