SYNAPT XS高分辨率质谱仪参数指标

新型SELECT系列环形离子淌度质谱系统

　　离子淌度质谱法是一种经过验证的技术，可快速获得结构解析信息，显著提高系统峰容量。沃特世公司在环形离子淌度（cIM）技术方面钻研多年， SELECT系列环形离子淌度质谱系统通过新型紧凑型循环离子导向器取代传统的线性离子迁移率区域，将离子淌度分离提升到一个全新的水平。创新的循环设备提供可扩展的高分辨率离子淌度分离，并引入了执行离子淌度/离子淌度和IMS实验的独特能力，扩展了常规离子淌度的优势。

　　《Journal Analytical Chemistry》在最近一篇名为“环形离子淌度-质谱系统”的文章中记录了循环IMS仪器的特点和优势。

新的研究级SYNAPT XS质谱系统