高速扫描电子显微镜 H...

高速扫描电子显微镜 HEM6000参数指标

参数指标我要纠错


性能特点

图像采集速度:10 ns/pixel,2*100 M pixel/s

加速电压:100 V~6 kV(减速模式) ; 6 kV~30 kV(非减速模式)

分辨率:1.3 nm@3 kV,SE ; 2.2 nm@1 kV,SE

视场大小:最大视场1*1 mm²,高分辨微畸变视场32*32 um²

样品台精度:重复定位精度:X ±0.6 um;Y ±0.3 um

指标HEM6000常规场发射扫描电镜
像素尺寸(单张)8192*8192
像素点时间120 ns(点/行/帧平均数:6/2/1)800 ns
像素大小16 nm
拍摄总面积2 mm²

拍摄总时间

25分32秒>140分

产品参数

关键参数分辨率1.3nm @ 3 kV,SE;1.9nm @ 3 kV,BSE;
2.2 nm @ 1 kV,SE;3.3 nm @ 1 kV,BSE;
加速电压100 V~6 kV(减速模式)
6 kV~30 kV(非减速模式)
放大倍率66~1,000,000x
电子枪类型高亮度肖特基场发射电子枪
物镜类型浸没式电磁复合物镜
样品装载系统真空系统全自动控制,无油真空系统
样品监控样品仓监控水平摄像头 ; 换样仓监控垂直摄像头
样品最大尺寸直径4英寸
样品台类型电机驱动3轴样品台(*可选配压电驱动样品台)
行程

X、Y轴:110mm;

Z轴:28mm;

重复定位精度

X轴:±0.6μm;

Y轴:±0.3μm;

换样方式全自动控制
换样时间<15 min
换样仓清洗全自动控制等离子清洗系统
图像采集与处理驻点时间10 ns/pixel
图像采集速度2*100 M pixel/s
图像大小8K*8K
探测器和扩展标配镜筒内混合电子探测器
选配低角度背散射电子探测器
镜筒内高角度背散射电子探测器
压电驱动样品台
高分辨大场模式
样品仓等离子清洗系统
6英寸样品装载系统
主动减震台
AI降噪;大图拼接;三维重构
软件语言中文
操作系统Windows
导航光学导航、手势快捷导航
自动功能自动样品识别、自动选区拍摄、自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散



服务


扫描电子显微镜实验室 

我们在合肥、无锡、广州和上海设有扫描电子显微镜实验室,实验室配备多名电镜技术专家和高级电镜应用工程师,提供包含电 镜应用技术开发、样品拍摄在内的多种服务。主要应用领域有锂电池、新型纳米材料、半导体材料、矿物冶金、地质勘探、生物医药等。 实验室依托国仪量子电镜产品,在电镜应用领域开展具有自主知识产权的科研项目,致力于实现科学研究和人才培养的目标。与此同时,实验室也为有电镜应用需求的科研院所、大专院校、企事业单位提供优质的服务。


相关扫描电镜SEM