Phasics波前分析仪

Phasics波前分析仪技术特点

Phasics进口 其它光学测量仪
参考成交价格： 10~20万元[人民币]
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技术特点

【技术特点】-- Phasics波前分析仪

法国Phasics公司波前分析仪

公司成立于2003年，从法国科学研究中心LULI实验室分拆出来，技术源于法国国家航天实验室。其独特四波横向剪切干涉技术，克服了夏克-哈特曼技术的限制，具有高分辨率、高动态范围、高稳定性、易使用、零色差等特点。

Phasics公司的波前分析仪结构紧凑，在没有中继光学器件的情况下可对激光进行直接测量：位相、泽尼克/勒让德系数、斯特列尔比、PSF、光斑直径、束腰位置、M2等全方位的激光参数信息。


Phasics以客户为中心，关心满足所有需求：其强大的研发团队不断开发创新功能和探索新应用，并根据客户要求定制标准配置。



主要应用：

激光；

自适应光学及等离子体检测；

光学元件及光学系统计量；

微观材料检测；


型号

波段

口径

空间分

辨率

相位分辨率

取样分

辨率

绝对

精度

采样

速率

实时处

理速率

特点

SID4-UV-HR

190-400nm

13.8×10.88mm

38.88um

1nmRMS

355x280

10nmRMS

30fps

＞3fps

最低至190nm波长感光灵敏
1nmRMS高相位灵敏度
355x280超高相位取样分辨率

SID4-UV

250-400nm

7.4×7.4mm

29.6um

2nmRMS

250x250

10nmRMS

30fps

＞2fps

250x250超高相位取样分辨率
2nmRMS高相位灵敏度
紫外波段波前测量的通用解决方案

SID4-sC8

400-1050nm

16.61×14.04mm

19.5um

＜1nmRMS

852x720

NA

40fps

10fps

亚纳米级光程差灵敏度
光强及相位即时测量
兼容多种图像采集软件：Metamorph/Micromanager/NIS-Elements等

SID4-Bio

400-1100nm

11.84×8.88mm

取决显微镜放大倍率

＜1nmRMS

400x300

NA

NA

NAfps

独特的即时定量相位成像技术轻巧紧凑
即插即用，易于集成

SID4-HR

400-1100nm

11.84×8.88mm

29.6um

2nmRMS

400x300

15nmRMS

10fps

3fps

400x300超高相位取样分辨率
11.8x8.8mm大分析靶面
可接收最高至NA=0.8高数值孔径发散光束

SID4

400-1100nm

4.73×3.55mm

29.6um

＜2nmRMS

160x120

10nmRMS

40fps

＞10fps

2nmRMS高相位灵敏度
400-1100nm工作波长范围内自消色差无需校准
瞬时相位测量，对振动不敏感
可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷

SID4-UHR

400-1100nm

15.16×15.16mm

29.6um（可拓展至22.2um）

2nmRMS

512x512
(可拓展至666x666）

15nmRMS

8fps

1fps

超高分辨率
超大靶面分析尺寸:15.16x15.16mm
自消色差

SID4-V

400-1100

4.73×3.55mm

29.6um

＜2nmRMS

160x120

10nmRMS

60fps

＞10fps

真空兼容性至10-6毫巴
不受真空环境下热效应和机械效应的影响低放气率

SID4-SWIR

900-1700nm

9.6×7.68mm

120um

＜2nmRMS

80x64

15nmRMS

30fps

7fps

80x64高相位分辨率
高感光灵敏度-可适用于低功率红外光源测试
瞬时相位测量，对振动不敏感
可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷

SID4-eSWIR

900-2350nm

9.6×7.68mm

120um

＜6nmRMS

80x64

＜40nmRMS

NA

10fps

0.9至2.35µm扩展波段全覆盖
80x64高相位分辨率
瞬时相位测量，对振动不敏感
可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷

SID4-SWIR-HR

900-1700nm

9.6×7.68mm

60um

2nmRMS

160x128

15nmRMS
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