【技术特点】-- 德国徕卡 激光显微切割 SR GSD 3D
设立精度、稳定性和光学性能方面的新标准
采用随机情形光学重构显微术(GSD ordSTORM
)能够实现超分辨率图像,其横向分辨率高达20nm。然而,宽视场显微镜的z-分辨率仍仅限于几百纳米的范围。作为超高分辨率显微镜的先驱,Leica
Microsystems开发了Leica SR GSD 3D突破了这个限制,达到在轴向上50nm的分辨率,并在三维定位精度方面设置了新的标准。
Leica SR GSD
3D以其本地化单分子的独有精度、其系统的稳定性、光学性能及其易于操作性取胜。这些属性对于在zei短的时间内产生可重现的高品质结果是十分重要的。所有的
光学元件在复消色差方面均被修正为Leica
Microsystems的高标准。该软件能够进行精确的校准,此外,还有具备黄金珠的标准校准、具备样本的荧光珠或染料分子的特定颜色校准可供选择。
... we Have Redefined the Limits of Super-Resolution
by Adding the Z Dimension
zei大激光稳定性、zei低自动荧光和zei高色彩校正
特殊设计的超分辨率高功率物镜
Leica SR GSD 3D配备了专门为超高分辨率显微镜开发的160倍的高性能物镜。其设计在高功率激光辐射上进行了优化。极低的自体荧光保证了高信噪比,这对于单分子检测应用较为理想。出色的复消色差校正进一步提高了图像的效果。
用柱面透镜在发射光束路径中进行精确的定位
以散光法进行三维定位的原则
对于GDSIM或dSTORM荧光显微镜中单分子的定位,每个分子的点扩散函数(PSF)均进行
了记录,并且执行了匹配来确定荧光团的位置。用普通的荧光显微镜,荧光团的横向位置被定义为常规的PSF(左)。如果柱面透镜被添加到该系统中,则获得了
一个不同的PSF(散光)(右)。对应的图像能够确定所检测到的分子的z位置,从而实现了三维重建。
为了确保结果的可重复性,只要系统从二维切换到三维录制,柱面透镜即可精确地定位到发射光束路径中 - 不是用手,而是通过软件控制进行一次鼠标点击来自动完成。
了解更多有关徕卡科学实验室中我们循序渐进的教程中的三维定位显微镜的基本原理。
SuMo Stage将漂移zei小化来进行分子的精确定位
精度和稳定性上零妥协
Leica Microsystems用SuMo
Stage引进了漂移补偿新技术,将采集过程中zei大系统漂移置于分辨率以下。这使我们有可能观察到zei为真实的超分辨率图像。特殊的SuMo技术
(Supressed Motion),确保在检测过程中的zei小化漂移以及zei高的稳定性。
【技术特点对用户带来的好处】-- 德国徕卡 激光显微切割 SR GSD 3D
【典型应用举例】-- 德国徕卡 激光显微切割 SR GSD 3D