仪电物光SGW®X-4显微...
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上海仪电物光SGW® X-4显微熔点仪

【主要技术参数】

仪器型号

  SGW® X-4

测量范围

室温~320 ℃

测量方法

目视

测量模式

毛细管法、热台法

zei小示值

1℃      

重复性

≤200℃±1℃,>200±2℃

观察方式

单目显微镜

放大镜倍数

40×

电源

220V±22V,50Hz±1Hz

仪器尺寸

30mm×22mm×44mm

仪器净重

4.5kg


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