比表面及孔隙率测试仪JW-122F技术特点

【技术特点】-- 比表面及孔隙率测试仪JW-122F

技术参数
测定仪原理方法： 低温氮吸附，静态容量法
测定仪吸附气体： 高纯氮气，也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体
测定仪极限真空： ≤ 10-6 Pa （ 7.5×10-9 Torr）
测定仪氮气分压： 1×10-8 –0.995
测定仪控制精度： 测试压力点控制zei小间隔可小于0.1 KPa （0.75 Torr） ，测试压力点可多达一千个
多级压力传感器压力测试精度达0.0001Pa （7.5×10-7 Torr）
10-8-10-1范围测试压力点大于50点
测定仪测试范围： 0.005 M2/g，无规定上限
介孔孔径分析 2 - 400nm
微孔孔径分析0.35 - 2nm
测定仪测试精度： ≤±1.5%
0.35-2nm 微孔zei可几孔径重复误差 ≤0.01nm
测定仪测试效率： 多点BET比表面每样平均20min
孔径分析时间随材质不同各异
测定仪预 处 理： 两样品同位处理，真空低于0.1Pa, 温度50 - 400℃，±1℃
测定仪专用软件： BET（单点、多点）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、
HK、FS、NLDFT等

【技术特点对用户带来的好处】-- 比表面及孔隙率测试仪JW-122F

【典型应用举例】-- 比表面及孔隙率测试仪JW-122F