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电子显微镜分析仪
TEM QUANTAX EDS
XFlash® 7T - 纳米尺度上的彩色图像: 用于 TEM 和 SEM STEM 的 EDS
单原子与纳米结构
使每一台电子显微镜都能物尽其用
产品亮点
80 keV：业界领先检测能量范围，对所有元素进行精确的定性定量分析
3 TEM- 定量分析模型：基于理论和经验结合的 Cliff-Lorimer 因子以及Zeta- 因子修正的定量方法已经在 TEM, STEM 和 T-SEM 中成功验证
1 Å：性能稳定，使用增强的漂移校正功能可对周期性结构 (原子，层状结构) 进行稳定的元素面分析
透射电子显微镜中的纳米尺度元素分析
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