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应用于地球科学的大尺寸几何结构离子探针
IMS 1300-HR3是一款大尺寸几何结构离子探针，可为广泛的地球科学应用提供无与伦比的分析性能：使用稳定同位素追踪地质过程，矿物定年，以及确定痕量元素的存在和分布。其高灵敏度和高横向分辨率也使其成为搜索和测量铀颗粒以用于核防护目的的必要工具。
借助新型IMS 1300-HR3，CAMECA极大地提高了已占据市场领导地位的大尺寸几何结构SIMS的性能，现可在高空间分辨率和高质量分辨率下为地球科学界提供高重现性的独特组合。该工具可充分满足高精度和高生产率的小尺度原位同位素测量的需求，并拓展了广泛的研究方向——从稳定同位素、地质年代学和痕量元素到小颗粒等等。
秉承了IMS 1280-HR和之前型号的主要优点：
大尺寸几何结构设计可在高质量分辨率下提供高灵敏度
应用于高精度同位素测量的多功能多接收器系统
用于分析正负二次离子的双一次离子源
卓越的离子成像能力（探针和显微镜模式）
增强型磁场控制系统实现了高质量分辨率下的高再现性
远程操作、全自动化、功能强大的应用专用软件
IMS 1300-HR3的改进及优点：
新型射频等离子体氧源显著增加了电子束密度和电流稳定性，极大地提高了空间分辨率、数据再现性和通量。
具有自动化样品高度（Z）调节功能的新型电动储存室可显著提高分析精度、易用性和生产率。
用于改善光学图像分辨率的紫外光显微镜，搭配专用软件实现简单的样品导览
1012 Ω电阻法拉第杯：用于测量低计数率的低噪声电测系统
参考招标参数
采购项目编号：JLU-ZC22007
采购项目： 高分辨二次离子质谱仪
高分辨二次离子质谱仪 1台
2.1一次离子系统
2.1.1.需同时装有Cs+源和O-源，可以快速切换，可以分析电正性或电负性元素。Cs+离子束斑和O-离子束斑的直径均≤1.0 μm。
2.1.2.Cs+离子最小束斑直径≤0.5 μm（源高压=+10 kV，样品高压=-10 kV）；Cs+离子束斑直径5 μm~30 μm时，束流密度>35 mA/cm²（源高压=+10 kV，样品高压=-10 kV）；稳定性：ΔI/I < 1%（20 min内，源高压=+10 kV）。
2.1.3.O-离子束斑最小直径≤0.8 μm（源高压=-13 kV，样品高压=+10 kV）；O-离子束斑直径5 μm~30 μm时，束流密度>100 mA/cm²（源高压=-13 kV，样品高压=+10 kV）；稳定性：ΔI/I < 3%（10 h内，源高压=-13 kV）。
2.1.4.O2-离子束斑直径5 μm~30 μm时，O2-离子束流密度>20 mA/cm²（源高压=-13 kV，样品高压=+10 kV）。
2.1.5.配备防止绝缘样品电荷累积装置。
2.2.样品室
2.2.1.工作站可控制换靶；需配备计算机可完全控制的高精度样品台，可自动控制X-Y-Z方向的移动，X-Y方向上具有样品位置存储和回调功能。样品台移动步幅≤1 µm。样品台复位精度≤2 µm (1σ)。
2.2.2.通过紫外光显微镜观察样品表面，可获得高清晰的光学图像，光学图像可在分析时使用，最大样品视域≥1.45 mm × 1.45 mm。
2.2.3.一次可放置≥6个样品架的真空样品贮存室，带有隔离阀，可在样品更换等情况下维持仪器的真空。
2.3.二次离子光学系统-双聚焦质谱仪
2.3.1.质量分辨率：最高≥40000 (高斯峰，10 %定义)或最高≥10000（1%定义）。
2.3.2.在单接收检测模式下分析硅样品28Si，质量分辨率≥32000（10 %峰高）时传输率≥3%。
2.3.3.配备吹氧装置，要求铅灵敏度：在质量分辨率≥5700 (10 %峰高)，使用O2-一次离子及使用吹氧技术时206Pb+计数率≥24 cps/ppm/nA。
2.3.4.需配备磁场稳定装置，磁场控制下的静态磁场长期稳定性(10 h)：在质量数16处ΔM/M<3 ppm（1 s积分时间）；在质量数238处ΔM/M<2 ppm（1 s积分时间）。
2.3.5.质量范围：在10 kV下1～300 amu；在5 kV下1～600 amu。
2.4.探测系统
2.4.1.需配备多接收系统：多接收系统需装备有7个检测器：2个法拉第杯+5个检测器（法拉第杯或电子倍增器）。多接收模式下的同位素分析范围：从Li (6-7)到U (234-235-236-238-239)。检测范围0-1010 cps；自动使用电子倍增器和法拉第杯实现连续测量。
2.4.2.电子倍增器：背底＜ 3 count/minute
2.4.3.标准法拉第杯：标准输入范围为0～±10-10 A；标准操作阻抗为1010 Ω或1011 Ω；噪声4×10-16 A (1σ)，4s积分时间；基线漂移4×10-16 A，大于1 h，60s积分时间。
2.4.4.低信号检测法拉第杯：标准输入范围0～±10-11 A；标准操作阻抗1012 Ω；噪声1×10-16 A (1σ)，4s积分时间；基线漂移1×10-16 A，大于1 h，60s积分时间。
2.5.测量精密度
2.5.1.锆石（如91500）U-Pb同位素分析精度：207Pb/206Pb的单点分析内部精度＜0.8%；207Pb/206Pb的5点分析外部重现性＜1%；206Pb/238U年龄的10点分析外部重现性＜2%。
2.5.2.锆石（如91500）氧同位素分析精度：18O/16O的单点分析内部精度＜0.03%；18O/16O的10点分析外部重现性＜0.03%。
2.5.3.石英中硅同位素分析精度：30Si/28Si的单点分析内部精度＜0.054%；30Si/28Si的10点分析外部重现性＜0.054%。
2.5.4.橄榄石中镁同位素分析精度：26Mg/24Mg的单点分析内部精度＜0.050%。
2.5.5.硫化物中硫同位素分析精度：34S/32S的单点分析内部精度＜0.1%。
2.6.真空系统
2.6.1.具有相应的真空监测与显示，真空系统具有自动保护功能。
2.6.2.质谱仪真空≤7×10-9 mbar，检测系统真空≤7×10-8 mbar。
2.6.3.源关闭及无样品靶时样品室真空≤7×10-10 mbar，O-源工作时样品室真空≤1.5×10-9 mbar，Cs+源工作时样品室真空≤1×10-9 mbar。
2.7.软件及工作站分析系统
2.7.1.仪器控制软件：可进行样品导航、仪器参数调控、分析方法设定、数据采集、采集方案设置，可以执行全自动样品分析，远程监控。
2.7.2.台式工作站主机内存≥16 GB，固态硬盘≥2 TB，处理器性能≥Xeon W-2123处理器，独立显卡；6台尺寸≥25英寸显示器。