新型混合像素电子探测器DECTRIS ELA技术特点

【技术特点】-- 新型混合像素电子探测器DECTRIS ELA

采用DECTRIS混合像素技术的ELA®探测器为电子能量损失谱（EELS）提供了前所未有的速度，灵敏度和动态范围，是用于EELS的理想电子计数探测器。它可以处理远远超过100pA的探针电流，同时记录高强度的零损峰和高损峰，并在全能量谱范围内进行单电子计数。其高帧频速率允许一次性快速获取元素面分布结果，特别适合电子束敏感材料的分析。得益于其无死区读出能力，您不仅不会在两帧图像之间丢失电子，确保能够收集样品所能提供的所有信息。与高分辨率光谱仪相结合，DECTRIS ELA 探测器将显著改进 EELS和4D-STEM 等应用发展，使您的实验在几分钟内完成，同时提高仪器的利用率，并大大减少操作时间。

技术规格

帧速率	2,250 Hz at 16 bits 4,500 Hz at 8 bits 18,000 Hz with ROI mode
计数能力	> 1 pA/pixel
像素数	1,024 x 512
传感材料	硅(Si)
图像深度	32 bits
能量范围	30-200 keV
点扩散函数	< 1.3 pixel at 200 keV

这种混合像素电子探测器快速而灵敏，可在 EELS 和 4D STEM 中实现高级数据收集。

DECTRIS ELA® 电子计数检测器在检测器噪声、帧速率和动态范围方面具有一流的性能。它可以处理超过 100 pA 的探头电流，并同时捕获微弱和强烈的反射，以实现先进的衍射和成像研究。此外，它还允许一次性快速映射元素，这在处理光束敏感材料时尤为重要。

ELA混合像素探测器专门针对电子能量损失谱（EELS）和四维扫描透射电子显微镜（4D STEM）进行了优化。

• 捕获一切：由于其无死区时间读数，ELA检测器可以收集样品可以提供的所有信息。

• 快速：ELA检测器的高帧率和计数率可显著缩短实验时间，并可提高仪器通量。

• 简单：ELA探测器的应用编程接口（API）可直接集成到任何现代数据管道或电子显微镜套件中。

探测器规格*

像素数（宽 x 高）	约1,028 x 512
有效区域（宽 x 高） [ 平方毫米 ]	约77.1 x 38.4
像素尺寸（宽 x 高） [ 微米² ]	约75 x 75
传感器材料	硅 （Si）
能量范围 [ 凯文 ]	30 - 200
帧速率（最大） [ 赫兹 ]	2,250（16 位）;4,500（8 位）
帧速率（ROI，最大值） [ 赫兹 ]	9,000（16 位）;18,000（8 位）
计数率（最大） [ el/s/像素 ]	107
检测量子效率，DQE（0）	0 kV 时为 9.100,0 kV 时为 8.200
探测器安装	同轴后光谱仪

*所有规格如有更改，恕不另行通知。
所有技术文档均可在此处获得。

【技术特点对用户带来的好处】-- 新型混合像素电子探测器DECTRIS ELA

【典型应用举例】-- 新型混合像素电子探测器DECTRIS ELA