天士立 环境老化试验系统 ST-HTXB参数指标

品牌：TIANSHILI

名称：功率器件环境老化试验系统

型号：ST-HTXB

用途：针对功率器件进行环境老化试验

适用于各种封装类型的 Diode、BJT、MOS-FET、SCR、桥堆、IGBT 单管/模块、IPM 模块等环境老化试验

包括高温反偏/HTRB，高温栅偏/HTGB，高温高湿反偏试验/H3TRB，其中 HTRB 和 HTGB 可二合一

漏电流检测 1nA~20mA，高压 2000V@3000V