美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)参数指标

特点与优势

• 高分辨率数据：高达167通道

• 1nm到1,000nm的极宽粒径范围

• 符合ISO 15900:2009标准

• 快速测量：<10s扫描

• 宽浓度范围，高达 10 7 颗粒/cm 3

• 给您zei大灵活度的组件设计

• 触摸屏控制无需电脑操作

• 免工具安装易于设置，自动发现组件

• 审慎的颗粒测量：适合多模样品

• 不依赖于粒子和流体的光学性质

• 宽系统配置选项：可选水介质或丁醇介质凝聚粒子计数器；可选传统的或无辐射中和器  

应用   

纳米技术研究和材料的合成 

大气研究和环境监测 

燃烧和发动机排气的研究 

室内空气质量的测量 

核 /  冷凝的研究 

吸入毒理学研究