为什么选择表面等离子体共振分析仪SPR210A VASA?
1、从埃到微米的真实厚度: 独一无二的宽角度扫描范围保证了不仅可以测量薄的层(几埃),还可以测量厚的层(几微米)。厚度和折射率(RI)可以通过Fresnel方程拟合SPR曲线来测定。使用额外波长,不需要事先知道折射率或厚度,就可以找到唯一的答案。
2、从纳米粒子到层和多层: MP-SPR可以作为薄膜沉积工艺,如:CVD、ALD的在线验证工具,薄膜可以是单层或多层。由于没有要求真空,所以测量可以在几分钟内完成。
3、实时相互作用: MP-SPR是一种实时的方法,因此能够测量从干燥环境到潮湿环境时的材料溶胀、材料-溶剂相互作用、纳米粒子吸附动力学、抵抗蛋白质和更多。