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产品型号：UP-Dual
品牌：Rtec
产品产地：美国
产品类型：进口
原制造商：Rtec
状态： 在售
厂商指导价格：
未提供
英文名称：UP-Dual
上市时间：
2011年
优点： 美国Rtec台阶仪 特点：一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜 白光干涉 白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描，对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。 
参考成交价格：
20~30万元[人民币] 查中标价
1695