【技术特点】-- 蔡司裂变径迹显微分析系统

总体描述

蔡司zei新推出的裂变径迹显微分析系统，实现智能自动化操作，对两个样本对应区域进行自动镜像精准定位、对比统计；能自动完成矿物颗粒分析、径迹数目统计、测量径迹与C轴角度、测量Dpar、Dper值，依据自发径迹密度和诱发径迹密度计算裂变径迹表观年龄。系统还可为客户提供岩矿分析等其他研究工作。

产品特点

◆zei佳优化的操作理念

◆拥有更高衬度和更高分辨率的新型光学系统

◆全自动Z轴自动聚焦模块

◆保证zei大稳定性和免振动工作的创新设计

◆统计辐照单矿物的裂变径迹数，分析计算矿物表观年龄，并模拟地质体热演化历史

【技术特点对用户带来的好处】-- 蔡司裂变径迹显微分析系统

【典型应用举例】-- 蔡司裂变径迹显微分析系统