SPM-9700HT用纳米物理检测软件参数指标

纳米领域表面/界面物理性质可视化处理

扫描探针显微镜的探针和样品之间的力随距离的变化而变化，通过测量作用于探针接近/离开样品时悬臂感受到的力的力（测量力曲线），可以检测表面/界面的物理性质。

主要优点：
1.通过测量特定位置的力曲线，可以检测样品吸附力和杨氏模量（点位分析）
2.获取各点力曲线，检测平面物理性质分布（mapping）
3.将获得的数据生成3D效果图，实现数据筛选与解析（3D分析）
4.通过理论模型计算杨氏模量

膜表层任意位置物理性质检测