法国Phasics SID4波前分析仪参数指标

参数指标

产品介绍：法国phasics 的波前分析仪（上海屹持光电代理），基于其波前测量zl——四波横向剪切干涉技术（4-wave lateral shearing interferometry）。作为夏克-哈特曼技术的改进型，这种独特的zl技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。

主要应用领域：

1. 激光光束参数测量：相位（2d/3d），m2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数

2. 自适应光学：焦斑优化，光束整形

3. 元器件表面质量分析：表面质量（rms，ptv，wfe），曲率半径

4. 光学系统质量分析：mtf, psf, efl, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制

5. 热成像分析，等离子体特征分析

6. 生物应用：蛋白质等组织定量相位成像

产品特点：

1. 高分辨率：zei多采样点可达120000个

2. 可直接测量：消色差设计，测量前无需再次对波长校准

3. 消色差：干涉和衍射对波长相消

4. 高动态范围：高达500μm

5. 防震设计，内部光栅横向剪切干涉，对实验条件要求简单，无需隔震平台也可测试

型号参数：

型号	sid4	sid4-hr	sid4-dwir	sid4-swir	sid4-nir	sid4-uv
孔径mm	3.6 × 4.8	8.9 × 11.8	13.44 × 10.08	9.6 × 7.68	3.6 × 4.8	7.4 × 7.4
分辨率μm	29.6	29.6	68	120 μ	29.6	29.6
采样点	160 × 120	400 × 300	160 × 120	80 × 64	160 × 120	250 × 250
波长	400 -1100 nm	400 - 1100 nm	3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm	0.9 ~ 1.7 μm	1.5 ~ 1.6 μm	250 ~ 450 nm
动态范围	> 100 μm	> 500 μm	n/a	~ 100 μm	> 100 μm	> 200 μm
精度	10 nm rms	15 nm rms	75 nm rms	10 nm rms	> 15 nm rms	20 nm rms
灵敏度	< 2 nm rms	< 2 nm rms	< 25 nm rms	<3/1nm rms	< 11 nm rms	2 nm rms
采样频率	> 100 fps	> 10 fps	> 50 fps	25-60 fps	60 fps	30 fps
处理频率	10 hz	3 hz	20 hz	> 10 hz	10 hz	> 2 hz
尺寸mm	54 × 46 × 75.3	54 × 46 × 79	85 × 116 × 179	50 × 50 × 90	44 × 33 × 57.5	53 × 63 × 83
重量	250 g	250 g	1.6 kg	300 g	250 g	450 g

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