集成矿物分析仪 TIMA-X FEG（LM）技术特点

【技术特点】-- 集成矿物分析仪 TIMA-X FEG（LM）

仪器简介：

TIMA3 LMU/LMH FEG是一款基于场发射扫描电子显微镜设计的集成式矿物分析专家，适用于采矿和矿物处理行业的应用。TESCAN的独特技术是基于一个完全集成的EDX系统，能以非常快的速度执行全谱扫描，可用于矿石特性检测、工艺优化、修复技术和贵金属与稀土的寻找。SEM和EDX硬件的集成水平实现了以前所未有的采集速度完全自动化的数据采集，并得到快速、准确和可靠的结果。

zei重要的特性：

u 通过高水平的SEM和EDX硬件集成实现了快速、完全自动化的数据采集；

u 基于MIRA SEM平台；

u 新设计的样品台集成了BSE/EDX校正标准和法拉第杯；

u 根据客户的需求更改样品的尺寸；

u zei多集成4个EDX探测器确保系统的性能zei高；

u 新的Peltier冷却型EDX探测器确保热稳定性；

u 改进的方法使数据分析既快又可靠；

u 根据样品的每个部分可调整扫描和EDX分析的时间；

u 离线数据处理；

u 各种各样的数据分析模块；

u 可自定义的分类规则；

u 可定制的解决方案。

TESCAN集成式矿物分析仪（TIMA）是一款新型的自动矿物分析的扫描电子显微镜，适用于采矿和矿物加工行业。TIMA可以对块状、薄片或抛光切片样品进行自动矿产丰度分析、粒度解离分析、矿物组合分析和颗粒尺寸分析。

TIMA的应用范围很宽，包括矿石性质、工艺优化、修复、贵金属和稀土的寻找等。TESCAN的独特技术是基于一个完全集成的EDX系统执行快速的全光谱扫描。 SEM与EDX硬件的一体化技术提供了前所未有的数据采集速度，进而得到快速、准确和可靠的结果。

TIMA硬件

TESCAN TIMA基于MIRA肖特基场发射或者VEGA钨灯丝扫描电子显微镜。MIRA镜筒的特殊设计（电子枪的恒真空与隔绝阀）提高了发射的稳定性和钨灯丝的使用寿命。该系统提供高真空模式为标准，低真空模式为选配。

大样品室、由计算机控制的超快样品台、矿物样品支持器的特殊设计。样品台可以同时容纳7块直径zei大为30mm的样品。样品台内可放入直径25 mm至32 mm的样品。样品台有EDX/BSE校准标准、铂Faraday筒（BSE信号校准）与锰、 铜、 石英、碳和金元素（系统性能检查）。标准校准的元素可以根据客户要求定制。

配件：

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• 二次电子探头

• 背散射电子探头

• 探针电流测量

• 压差式防碰撞报警装置

• 可观察样品室内部的红外线摄像头等，各种配件可供选择

【技术特点对用户带来的好处】-- 集成矿物分析仪 TIMA-X FEG（LM）

【典型应用举例】-- 集成矿物分析仪 TIMA-X FEG（LM）