ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统技术特点

【技术特点】-- ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统

Phenom ParticleX 以扫描电镜 + 能谱仪为硬件基础，通过背散射成像的明暗衬度识别颗粒，进而对颗粒进行能谱成分分析，根据颗粒形貌和成分信息对其智能分类，并且可以一键生成检测结果的报告。

飞纳 Phenom ParticleX 自动识别并采集所有杂质颗粒的形貌及成分信息。清晰的表面形貌有助于分析杂质的产生机理（如摩擦磨损等），成分信息有助于分析杂质产生的来源。

杂质的分析结果严格按照 VDA19 要求的格式呈现，颗粒分类统计结果更有助于评估锂电池生产的清洁度情况，方便不同批次样品的对比，以及生产工艺调整的验证。

锂离子电池的性能与正极材料的质量息息相关，当在正极材料中存在铁（Fe）、铜（Cu）、铬（Cr）、镍（Ni）、锌（Zn）、银（Ag）等金属杂质时，这些金属会先在正极氧化再到负极还原，当负极处的金属单质累积到一定程度，其沉积金属坚硬的棱角就会刺穿隔膜，造成电池自放电。负极材料中的杂质元素同样严重影响电池的电化学性能，有可能刺穿隔膜，造成安全隐患。

如何精准高效确认磁性杂质的来源，以此优化生产工艺呢？

ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统

ParticleX 可以全自动对正负极中的铁类杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计，整个过程无需人工参与。定量磁性杂质颗粒的形态、数量和种类，以此判定是哪个生产环节出了问题。

1. 可根据不同的检测需求，灵活定制自动分析流程

   常见自动化分析方案仅是能谱软件中的一项功能，可更改的参数很少，无法根据客户的需求灵活调整，也无法满足客户特殊户需求。ParticleX 是一套独立运行的系统，自动分析流程、杂质分类规则、报告生成样式等都可以根据实际需求灵活定制，会给每个客户定制一套针对性解决方案。

   
   

2. 长寿命 CeB6 晶体灯丝，确保自动化分析的流畅运行

   常见电镜灯丝材料为钨，寿命较短（仅为100小时左右），并且灯丝后期会熔断，导致分析过程立刻终止。CeB6 灯丝寿命超过1500小时（厂家质保），灯丝后期不会发生熔断，确保了自动化分析的流畅运行。另外，CeB6 灯丝亮度更稳定，因此其结果准确性也更高。

   
   

3. 多项设计，保证高通量快速运行

   · 100 × 100 mm 大尺寸样品台，可一次放置多个样品，一键自动全分析

   · 三仓分离的真空设计，抽真空时间小于 1 分钟，换样速度极快

   · 全自动电动马达台，保证位置移动的快速、精确

   
   

4. 软硬件一体化设计，保证了软硬件的协调工作

   · 软件可以充分调用硬件权限，并针对性优化；

   · 电镜和能谱一体化设计，工作距离一致，避免频繁调节电镜或能谱工作距离，大大提升操作便捷性；

   · 售后问题可以在一家解决，避免互相推诿。

复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-Scientific)，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有专业的服务团队，提供优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。

【技术特点对用户带来的好处】-- ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统

【典型应用举例】-- ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统

【产品所获奖项】-- ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统

Phenom ParticleX 以扫描电镜 + 能谱仪为硬件基础，通过背散射成像的明暗衬度识别颗粒，进而对颗粒进行能谱成分分析，根据颗粒形貌和成分信息对其智能分类，并且可以一键生成检测结果的报告。

飞纳 Phenom ParticleX 自动识别并采集所有杂质颗粒的形貌及成分信息。清晰的表面形貌有助于分析杂质的产生机理（如摩擦磨损等），成分信息有助于分析杂质产生的来源。

杂质的分析结果严格按照 VDA19 要求的格式呈现，颗粒分类统计结果更有助于评估锂电池生产的清洁度情况，方便不同批次样品的对比，以及生产工艺调整的验证。