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产品型号：微型采样系统
品牌：日立
产品产地：日本
产品类型：进口
原制造商：日立
状态： 在售
厂商指导价格：
未提供
英文名称：micro sampling system for FIB used for STEM analysis
上市时间：
2016-10-16
优点： 优异的高效分析性能 微型采样方法(已在日本和美国取得zl)已在半导体器件分析领域成为一款工具，它正迅速向更小制样方向发展。仅用一小时左右即可获得一个微小样品，以便于STEM分析，其定位精度可达到0.1 µm以下。
参考成交价格：
50~100万元[人民币] 查中标价
2888
