【技术特点】-- 过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

主要特点：专业颗粒分析方案
用于重复分析的监控平台，如：加工过程的监控，质量控制和日常分析的应用
坚固耐用，灵活机动
适用于工业环境的设计，设备可快速安装或变换位置
可变压力扫描电子显微镜
在使用可变压力测量非导电颗粒或过滤得到的样品时的荷电补偿功能
SmartPITM软件
Smart Particle Investigator－集成的颗粒分析软件，用于自动分析和日常的分析，是一款使用方便的操作界面
集成的x射线能谱分析
用化学性质分类结合形态学的测量来进行颗粒的鉴定，一个简单的应用和使用者界面
高性能的扫描电子显微镜平台
带有卡尔.蔡司SmartSEM®软件时，可作为一台常规的SEM使用

【技术特点对用户带来的好处】-- 过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

【典型应用举例】-- 过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM