更为强大的缺陷分析解决方案

Park NX20具备独一无二的功能，可轻易找出仪器缺陷的原因并帮助制定更多创意的解决方案。无与伦比的精密度为你带来高分辨率数据，让你能够更加专注于工作。与此同时，True Non-Contact™(真正非接触)扫描模式让探针尖端更锋利、更耐久，无需为频繁更换而耗费大量的时间和金钱。

操作简单，入门级工程师的福音

Park NX20拥有业界zei为友好的设计和自动界面，让你在使用时无需花费大量的时间和精力，也无需为此时时监督初级工程师。借助这一系列特点，您可以更为专注于解决更为重大的问题并为客户提供及时且富有洞察力的失效分析。

*技术信息

三维结构研究的侧壁测量

NX20的创新构造让您可以检测样品的侧壁和表面，并测量角度。众多的功能和用途正是您的创新性研究和深刻洞察力所需的。

表面粗糙度测量 - 媒介和基体

表面粗糙度测量是Park NX20的关键应用之一，能够带来精确的缺陷分析和质量保证。

高分辨率电性扫描模式

zei快的扫描式电容显微镜

无横向摩擦导电原子力显微镜

True Sample Topography™(真正样品扫描），让压电蠕变无影踪

 我们的原子力显微镜配有zei有效的低噪声Z轴探测器，宽噪音带宽仅有0.02 nm。这能够带来超精确样品形貌，不受沿过冲影响，且无需校准。这仅仅是Park原子力显微镜为您节省时间和带来更好数据的方式之一。