【技术特点】-- PF TEM原位冷冻电学样品杆系统

扫描探针操纵指标，室温下：

• 粗调进针范围： XY方向3mm，Z方向1.5mm

• 细调扫描范围：XY方向20um，Z方向2um

• 细调分辨率： XY方向0.2nm，Z方向0.04nm

透射电镜结构分辨率：

• 全温区优于0.2nm

【技术特点对用户带来的好处】-- PF TEM原位冷冻电学样品杆系统

【典型应用举例】-- PF TEM原位冷冻电学样品杆系统