Nicomp Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪技术特点

【技术特点】-- Nicomp Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪

Nicomp 380 Z3000 亚微米粒径电位检测仪

基本概述：

Nicomp 380 是纳米粒径分析仪器，采用现在先进的动态光散射原理，利用zl的Nicomp多峰算法可以很准确的分析比较复杂多组分混合样品。为实验室的研究提供zei好的分析技术。 测试范围：0.3 nm – 10μm。

产品介绍：

Nicomp 380 采用动态光散射原理检测分析颗粒系的粒度及粒度分布，粒径检测范围 0.3 nm- 10μm。粒度分析复合采用 Gaussian 单峰算法和拥有zl技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势，其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。

380 Z3000 亚微米粒径电位检测仪 工作原理：

动态光散射法(DLS)，有时称为准弹性光散射法（QELS），是一种成熟的非侵入技术，可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布，使用zei新技术，粒度可小于1nm。 动态光散射法的典型应用包括已分散或溶于液体的颗粒、乳剂或分子表征。 悬浮在溶液中的颗粒的布朗运动，造成散射光光强的波动。 分析光强的波动得到颗粒的布朗运动速度，再通过斯托克斯-爱因斯坦方程得到颗粒的粒度。

【技术特点对用户带来的好处】-- Nicomp Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪

【典型应用举例】-- Nicomp Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪