Fritsch公司的A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度仪，采用聚焦激光散射或激光衍射的原理进行样品颗粒度的检测。zei低检测下限可达0.08µm ，在全球同类产品中都处于领先地位。

大量程激光粒度仪A22的推出，可以完全替代之前Fritsch公司所生产的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪，让您一次使用中可以同时获得过去三台机器的全部功效，使用更加便捷。

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技术参数：
1. 分析方法：激光散射/激光衍射
2. 湿法测量范围：0.08 - 2000 µm
3. 测量时间：5-10 s（单一测量时测量值记录）；2 min（整个测量循环）
4. 分析样品回路体积：300-500ml，可调节容积, 可调速径向泵
5. 测量周期：2min 
6. 光学排列：反傅立叶设计，活动的测量元件（FRITSCHzl）
7. 测量通道：108 
8. 测量结果的重现性：≤0.5％
9. 光源：波长532nm 和940 nm
10. 双激光束设计：绿光，红色激光
11.傅里叶透镜：260mm和560mm焦距（绿光或红外线）
12.软件：采用FRITSCH MaS控制软件，用于控制，记录和评估测量结果
13.完全符合国际ISO13320标准