产品特点:
先进的多光束可调系统
具有高分辨率的探测器
采用XYZ三维样品台
大型样品分析室
CCD摄像及自动定位系统
自动调节双层六通道滤光系统
完善的辐射安全防护
强大功能的软件操作系统
短时间多元素同时分析
无损分析和先进的薄样分析技术相组合
多种定量分析方法
无需液氮和水循环冷却
种类齐全的选配标准样品
RoHS/WEEE指令快速分析
(注):X射线荧光(XRF)分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可以对试样进行多元素快速分析