返回
日立 FT110A X射线荧...
综述
参数指标
技术特点
仪器导购
讨论群
视频/图片
用户
评论
日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪
日立
国产 X射线荧光测厚仪
收藏
产品型号:FT110A
品牌:日立
产品产地:日本
产品类型:国产
原制造商:日立
状态: 在售
厂商指导价格: 未提供
英文名称:Fluorescent X-ray (XRF) Coating Thickness Gauge FT110A
上市时间: 2011年
优点: 自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代产品FT110A。在测量精度、操作性能、软件上有新的优化。 通过自动定位功能,只需把样品放在样品台上,便能在数秒内自动对准观察样品焦点,省略了以前手动逐次对焦的操作,大幅提高了测量效果。
参考成交价格:
20~50万元[人民币]
查中标价
询价
申请演示
基本
参数
我要提交参数指标
查看更多信息
标
签
产地
亚洲
价格范围
20万-50万
相关
X射线荧光测厚仪
红外线油膜测厚仪-钢铁用
加拿大DJH显微测厚仪
菲希尔荧光光谱仪
菲希尔光谱仪
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 W系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列
厂家
资料
电话咨询
仪器
导购
产品
讨论群
材料PMI生产安全可靠性鉴定主题研讨会
qiuhan
1651
手持式XRF在涂镀层厚度/涂镀量现场测试中的应用
xgl4226
2225
【转载】【原创】XRF介绍
夜蓝星
3399
【转载】【求助】北京地区寻找X荧光光谱仪做分析
大学习
1756
【转载】【讨论】探测器窗膜的讨论
夜蓝星
1995
进入讨论区