日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪技术特点

【技术特点】-- 日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

主要特点：

1. 能够测量无铅焊锡
配备了薄膜FP法，可以同时测量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，无铅焊锡的镀层后与成份

2. 搭载中心搜索软件
通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。

3. 拥有防冲功能

4. 搭载激光对焦系统

5. 即时生成测量报告的便捷性
运用搭载的Microsoft Word® Excel® 可以简单轻松得到制作报告。

6. 拥有自动测量软件以及中心搜索软件

7. 搭载了薄膜FP法软件

8. 自动对焦功能
配备激光自动对焦功能，能够准确对焦，提高测量效率。

【技术特点对用户带来的好处】-- 日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

【典型应用举例】-- 日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪