CMI243镀层测厚仪
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技术参数:

型号:CMI 243 镀层测厚仪 膜厚仪 牛津仪器专业供应
品牌:OXFORD CMI(英国牛津) 

●ECP-M探头:锌、镍均可以测量
●准确度:±1%
●测量范围:0.08-1.50mils(2-38μm)
●分辨率:0.01mils (0.25μm)
●zei小测量半径0.06英寸(1.55mm)
●适用标准:符合ASTM B244—b259, DIN 50984,ISO 2360,ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3
●单位:英制和公制单位自动转换
●统计数据显示:读取次数,平均值,标准差,zei高值,zei低值,zei终值
●记忆储存:12,400个数据储存
●接口:RS-232串行端口,波特率可调,可接打印机或计算机
●显示:液晶显示(LCD),字符高度1/2” (1.27cm)
●电池:9V干电池或可充电电池。
●尺寸:57/8” (L) ×31/8” (W)×13/16” (D) (14.9×7.94×3.02 cm)
●重量:9盎司/0.26kg, (包括电池重量在内)
●品牌:英国牛津仪器; 
     产地:美国




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