HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪技术特点

【技术特点】-- HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪

X射线显微分析仪（μXRF）
XGT-9000

应对外来物质分析和元素分布检测的zei新解决方案。

运用强大的“快速分析模式”和“细节分析模式”，对外来物质分析，XGT-9000作为单一一台仪器即能迅速完成筛查和形状确认。

1外来物质分析的zei新解决方案

快速扫描结合图像处理的颗粒增强技术让外来物质分析非常容易。快速分析模式能够迅速筛查外来物质，细节分析模式进一步确认外来物质的形状。

2快速、清晰、生动的元素分布成像

检测时间的缩短和低背景元素分布分析成像大幅减少的总的分析时间

3光学观察系统和X射线束独特的同轴设计确实保证了精确的微区分析

zei新设计的光学系统具备两种照明方式—环状照明和同轴照明。无论是镜面样品还是凸凹不平的样品，通过这两种照明方式都能进行清晰的观察。细节摄像机可以调整工作焦距，像印刷电路板这样具有很大高度差表面的样品也能清晰地观察。

4多种分析模式

丰富的图像处理手段能够帮助获得精确地元素分布信息。通过多重元素分布像的叠加可以轻松获得共存元素及多种元素的分布图像。

5XGT-9000技术规格

【技术特点对用户带来的好处】-- HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪

【典型应用举例】-- HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪