ZEISS Xradia 520 Versa X射线显微镜参数指标

技术参数

成像

空间分辨率：0.7 μm

50 mm 工作距离下的分辨率 (RaaD)*：1.0 µm

zei小可实现的体素**（zei大放大倍率下样品的体素大小）：70 nm

* RaaD 工作距离按照旋转轴周围的间隙定义

** 体素 (也被称做 “标称分辨率” 或 “细节可探测性”)是一个几何术语，与分辨率相关，但不用于确定分辨率，在这里提出仅用于比较，蔡司使用空间分辨率指标，它是衡量分辨率zei有意义的方法

X射线源

类型：密封透射

管电压范围：30 - 160 kV

zei大输出：10 W

辐射安全度 (外壳表面以上25 mm处测量)： < 1µS/hr

探测系统

蔡司 X 射线显微镜拥有创新探测器转台，装有多个不同放大倍率的物镜。每个物镜配备优化的闪烁体，可提供zei高吸收衬度细节

标准物镜：0.4X, 4X, 20X

可选物镜：40X

样品台

样品台 (负荷能力)：15 kg

样品台行程 (x, y, z)：45, 100, 50 mm

样品台行程 (旋转)：360º

光源行程 (z)：190 mm

探测器行程 (z) 290 mm

样品尺寸限制：300 mm