【技术特点】-- 阻抗率自动测定系统

商品名称：	阻抗率自动测定系统
特色：	测定演算、数据处理，3次元图形输出完全自动化，可应用至基板尺寸650×650mm之长方形、圆形样品，“边缘之影响“被补正，依[MCC方法]测定例
测定对象：	ITO玻璃、薄膜，各种金属薄膜、各种导电性薄膜、薄片
型号：	﹢低阻抗率型式：MCP-S620 (650×650mm), MCP-S521 (450×450mm) ﹢高阻抗率型式：MCP-S600 (400×400mm)

【技术特点对用户带来的好处】-- 阻抗率自动测定系统

【典型应用举例】-- 阻抗率自动测定系统