返回 Epsilon 4 台式荧光光... 返回 Epsilon 4 台式荧光光... 
我要纠错
测量：Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
元素范围：C-Am
分辨率 (Mg-Ka)：135eV
LLD：1 ppm - 100%
样品处理量：80per 8h day - 160per 8h day
技术类型：Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
| 样品处理 | X 射线管 | 检测器 | 软件 |
|---|---|---|---|
| 具备 10 个位置的可移动样品交换器 | 稳定性zei高的金属陶瓷侧窗 | 高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，通常为 135 eV @ Mn-Kα | 通过 Omnian 无标分析解决方案，进行元素筛选 |
| 光谱仪zei多可容纳直径 52 毫米（2 英寸）的样品 | 50 微米薄铍窗，对轻元素高度敏感（Na、Mg、Al、Si） | zei大计数率 1,500,000c/s（在 50% 的死时间下） | 通过 FingerPrint 解决方案，进行合格/不合格分析 |
| 包含自旋器，以提高空气滤清器分析的准确性 | Ag 阳极 X 射线光管，获得 P、S 和 Cl 分析的zei佳性能 | 薄入探测器射窗，高灵敏度 | 在监管环境下，增强数据安全性 |
| 大样品模式zei大可分析高 10 cm 的较大样品 | 用于多层样品的 Stratos | ||
| 使用 Oil-Trace，在新润滑油和使用过的润滑油中对磨损金属进行灵活校准 |
重复性：低至相对0.02%
能量分辨率：~135eV
分析含量范围：ppm--100%
元素分析范围：F - Am （C-Am）