基本性能提升

190nm~900nm全谱采用塞曼背景校正技术，可扣除所有背景干扰（包含结构背景）

全时双光束技术，样品信号和参比信号同时检测，可获得稳定基线（±0.0004Abs）

操作简便可靠

“提升的基本性能”和“新增功能”的实现是基于日立原子吸收分光光度计的直流偏振塞曼校正技术。
　　所有元素都可实现高可靠性的背景校正，用户可完全通过软件实现相应分析。