型号 | TS-W1 | TS-W2 | TS-W3 | TS-W4 |
理论依据 | Mie散射理论 | |||
粒径测量范围 | 0.1-200um | 0.1-400um | 0.1-600um | 0.1-1000um |
光源 | 半导体制冷恒温控制红光固体激光光源,波长635nm | |||
重复性误差 | <1%(标准D50偏差) | |||
测量误差 | <1%(标准D50偏差,用国家标准颗粒检验) | |||
检测器 | 32或48通道硅光电二极管 | |||
样品池 | 固定样品池、循环样品池(内置超声分散装置) | |||
测量分析时间 | 正常条件下小于1分钟(从开始测量到显示分析结果) | |||
输出内容 | 体积、数量微分分布和累积分布表和图表;多种统计平均直径;操作者信息;实验样品信息、分散介质信息等。 | |||
显示方式 | 内嵌10.8寸工业级别的电脑,可连接键盘、鼠标、U盘 | |||
电脑系统 | WIN 10系统,30GB硬盘容量、2GB系统内存 | |||
电源 | 220V,50 Hz |