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微区X射线荧光光谱仪（MICRO-XRF）
高分辨率大面积微区XRF成像光谱仪
移动式微区XRF元素成像光谱仪
超快元素成像
2 x 60 mm2 SDD 面积
双硅漂移探测器，可快速获取样品元素信息
80 x 60 cm2 可扫描面积
单次面扫描最大面积
100-500 μm 可调节光斑大小
五种光斑尺寸可调以便更好的匹配样品
微区XRF（也称为macroXRF或MA-XRF）分析，已成为表征绘画、地质样品、考古文物和工业成分等对大型样品的重要方法。M6 JETSTREAM 以最高速度和精度进行微区X荧光分析。因为其具有方向可调节以可移动式支架，使得M6 JETSTREAM 可在现场使用，无需将部分无法运输样品送至实验室检测。
垂直样品或水平表面的测量
单次描面积高达 800 x 600 mm2
“On the fly“分析，以达到最高的面扫描速度
可调节光斑大小以匹配样品尺寸
XFlash® SDD 技术，具有2 x 60 mm2 的探测器面积
可选 AMS 系统， 以对不平整表面聚焦
Micro-XRF Study of the Troodontid Dinosaur Jianianhualong Tengi Reveals New Biological and Taphonomical Signals, Jinhua Li et. al, Atomic Spectroscopy 2021 42(1)
获取任意平面内元素的空间分布信息
在一次运行中采集整个大面积区域元素分布信息
将高分辨率光学图像与光谱存储在一个“ HyperMap “数据集中
从面扫描中结果提取任意形状对象光谱、线扫描和化学相态进行进一步分析
使用无标准基本参数 （FP） 方法定量分析光谱数据
设备可在现场进行检测，能够有效降低成本节约时间，并且能够避免因物流等因素对贵重文物样品造成损坏
M6 JETSTREAM不可以分析水平放置的样品，还可以分析垂直放置的样品。
主要特点：
1.M6 JETSTREAM不可以分析水平放置的样品，还可以分析垂直放置的样品。
2.在高激发强度以及样品台的快速移动情况下，仍可实现快速检测。
3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之内，根据样品结构及所需空间分辨率调整到相应的尺寸。
4.采用布鲁克先进的XFlash®硅漂移探测器，该探测器具有很高的计数率能力，在很宽的计数率范围内拥有良好的能量分辨率。
5.电路为用户提供X射线辐射风险防范措施。
6.超声波测距措施可以防止仪器与被测样品发生碰撞。
7.由于M6 JETSTREAM的可移动性，不论样品结构如何，它都可以很容易的准确定位。另外，M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分，使其便于携带。
行业应用：
文物分析——能够现场原位分析样品，使用户免去了搬运样品的麻烦，同时避免了在搬运中对文物可能造成的损坏。
地球科学——可分析大钻芯样或者其他矿物样品。
故障分析——可用于大部件样品的缺陷筛查、不均匀性分析，以及其他感兴趣的问题。
M6 JETSTREAM不可以分析水平放置的样品，还可以分析垂直放置的样品。
主要特点：
1.M6 JETSTREAM不可以分析水平放置的样品，还可以分析垂直放置的样品。
2.在高激发强度以及样品台的快速移动情况下，仍可实现快速检测。
3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之内，根据样品结构及所需空间分辨率调整到相应的尺寸。
4.采用布鲁克先进的XFlash®硅漂移探测器，该探测器具有很高的计数率能力，在很宽的计数率范围内拥有良好的能量分辨率。
5.电路为用户提供X射线辐射风险防范措施。
6.超声波测距措施可以防止仪器与被测样品发生碰撞。
7.由于M6 JETSTREAM的可移动性，不论样品结构如何，它都可以很容易的准确定位。另外，M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分，使其便于携带。
行业应用：
文物分析——能够现场原位分析样品，使用户免去了搬运样品的麻烦，同时避免了在搬运中对文物可能造成的损坏。
地球科学——可分析大钻芯样或者其他矿物样品。
故障分析——可用于大部件样品的缺陷筛查、不均匀性分析，以及其他感兴趣的问题。
参考成交价格：