返回
XDV-µ测厚仪
综述
参数指标
技术特点
仪器导购
讨论群
视频/图片
用户
评论
XDV-µ测厚仪
菲希尔
进口 X射线荧光测厚仪
收藏
产品型号:XDV-µ
品牌:菲希尔
产品产地: 德国
产品类型:进口
原制造商:菲希尔
状态: 在售
厂商指导价格: 未提供
英文名称:XDV-µ
上市时间: 2015年
优点: XDV-µ型系列仪器是专为在极微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦X射线束的多毛细管透镜,光斑直径(FWHM)可达10至60µm。短时间内就可形成高强度聚焦射线。除了通用型XDV-µ型仪器,还有专门为电子和半导体行业而设计的仪器。如XDV-µ LD是专为测量线路板而优化的,而XDV-µ wafer是为在洁净间使用而设计的。
参考成交价格:
20~50万元[人民币]
查中标价
询价
申请演示
基本
参数
我要提交参数指标
查看更多信息
标
签
产地
欧洲
价格范围
20万-50万
相关
X射线荧光测厚仪
红外线油膜测厚仪-钢铁用
加拿大DJH显微测厚仪
菲希尔荧光光谱仪
菲希尔光谱仪
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 W系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列
厂家
资料
菲希尔测试仪器(中国)有限公司
地址:上海市真北路915号22层
电话咨询
仪器
导购
X射线珠层测厚仪校准规范通过审定 填补国内空白
产品
讨论群
材料PMI生产安全可靠性鉴定主题研讨会
qiuhan
1638
手持式XRF在涂镀层厚度/涂镀量现场测试中的应用
xgl4226
2201
【转载】【原创】XRF介绍
夜蓝星
3364
【转载】【求助】北京地区寻找X荧光光谱仪做分析
大学习
1722
【转载】【讨论】探测器窗膜的讨论
夜蓝星
1975
进入讨论区