CMS2测厚仪
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特性:

  • 使用准确性高的电解退镀技术(库仑法),精确地测量多镀层的厚度

  • 图形显示的交互方式,易于操作

  • 适用性广泛:可测量金属和非金属底材上的镀层厚度,也适合测量多镀层厚度

  • 提供全面的附件产品供您选择,可满足特定需求

应用:

  • 金属和非金属底材上任何类型的金属镀层

  • 单层或多层的镀层厚度测量

  • 特别适用于通过 STEP 测试进行多层镍测量

  • 适用于 0.05 µm 至 40 µm 的镀层厚度测量


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