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| 测量元素 | Si、P、S、Cl(可选择B～Cl中的任意元素组合) |
| X射线管 | 电压：≤50keV，电流：≤2mA，功率≤50W，靶材：Ag（Mo、Rh、Pd、Cr等可选） |
| 探测器 | SDD，有效面积：20mm2，分辨率：≥123eV，计数率：≤2Mcps，入射窗：8μm铍（AP3.3可选） |
| 检测限（300s） | Si：0.9ppm，P：0.4ppm，S：0.18ppm，Cl：0.1ppm（标准型，1块LSDCC晶体） Si：0.5ppm，P：0.25ppm，S：0.12ppm，Cl：0.08ppm（增强型，3块LSDCC晶体） |
| 测量范围 | 检测限的3倍～9.99% |
| 线性误差分析精度 | 测S：满足GB/T 11140，ISO20884，SH/T 0842，ASTM D2622、D7039、D7220等的相关要求。测Si：满足ASTM D7757，SH/T 0706，SH/T 0058等的相关要求。测Cl：满足ASTM D7536，ISO 15597，SH/T 0161等的相关要求。测P：满足ASTM D6481，SH/T 0296，SH/T 0631等的相关要求。 |
| 系统分析时间 | 1～999s，推荐值：微量测量为300s，常量测量为60s |
| 使用条件 | 环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤200W |
| 测量氛围 | 自充气系统或氦气 |
| 尺寸及重量 | 540mm×500mm×450mm，35kg |
参考成交价格：