XAFS/XES 台式X射线吸收精细结构谱仪参数指标

射线源:

          XAFS: 1.2-kw XRD(Mo/w)

          XES: 100w XRF 空冷管(Pd/W)
能量范围: 5-12keV; 可达19keV
分辨率: 0.5-1.5eV
样品塔: 7位自动样品轮
布拉格角: 55-85 deg

检测器: SDD

单晶尺寸:

          球面单晶(Si/Ge)