AMPTEK 70mm2 大面积FASTSDD 探测器技术特点

【技术特点】-- AMPTEK 70mm2 大面积FASTSDD 探测器

特点

123 eV FWHM Resolution @ 5.9 keV

高计数率 >1,000,000 CPS

超高峰背比 - 26,000:1

Be window (0.5mil) 或可以配套AMPTEK C2（Si₃N₄）

T-08 一体化封装

制冷 ΔT> 85K

前置放大器输出成峰时间<60 ns

抗辐射

Si晶体厚度500um

内置多层准直器

70 mm² 准直后有效面积 50 mm²

应用

• 超快的台式和手持式分析仪

• SEM系统中用EDS进行扫描和绘图

• 在线过程控制及分类设备

• OEM定制应用

封装方式：可以适用AMPTEK所有封装产品，完全匹配

XR100FASTSDD with PX5

X-123FASTSDD

OEM Configurations

Vacuum Applications

分辨率：Be(0.5mil) and C windows

【技术特点对用户带来的好处】-- AMPTEK 70mm2 大面积FASTSDD 探测器

【典型应用举例】-- AMPTEK 70mm2 大面积FASTSDD 探测器

【产品所获奖项】-- AMPTEK 70mm2 大面积FASTSDD 探测器

采购单位名称	采购时间	采购台数	适用领域
泉州装备制造研究所	2017-01-20	1	仪器仪表