X-射线荧光镀层厚度测试仪XDL-B系列参数指标

技术参数：

1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法； 

2.原始射线从上至下； 

3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV； 

4.单个0.3mm直径(12 mils)的标准视准器，在附加费用的基础上可选择0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器；或直径0.1mm;或直径0.2mm；或0.4X0.4mm方形。 

5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）； 

6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门； 

7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。 

7.从X-射线头部（X-射线管，成比例的反射接收器及视准器）至测试件平面支承板有三种可选择的固定距离。需要的设定距离（见背面）必须在定货时明确（标准设定：中间位置） 

8.试件查看用彩色摄像机 

9.带有LED状态指示灯的测量开始/结束按钮与测试箱集成在一体