X-射线荧光镀层厚度测试仪XDLM系列参数指标

技术参数：

1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法； 

2.原始射线从上至下； 

3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV； 

4.标准视准器组：圆形0.1/0.2/0.3和长方形0.05X0.3mm； 

5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）； 

6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门； 

7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件； 

8.电机驱动的144mm（5.7〞）X-射线头部（X-射线管，比例接收器及视准器）的Z轴运行； 

9.试件查看用彩色摄像机 

10.测量开始/结束按钮，X-射线头部上/下按钮及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。