XDVM-W X-射线荧光镀...
参数指标我要纠错

技术参数:

1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法,符合技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568; 

2.测量箱结构坚固,使用合格的机械和电气部件; 

3.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)720 mm×660 mm×950 mm,重量大约为135kg; 

4.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)160 mm×560 mm×530 mm,带向上回转箱门; 

5.原始射线从上至下; 

6.高性能的X-射线管,高压及电流设定可调节至最佳的应用,高压设定:50kV,40kV或30kV;阳极电流:连续可调至0.8mA; 

7.原生电子过滤器:Ni和Be; 

8.4个对焦平面用于凹槽,腔体的测量,并可达到90mm; 

9.标准视准器组件Ⅰ有以下组成: 

0.1mm(4mil); 0.2mm(8mil); 0.05x0.05mm(2x2 mil)方形; 0.03x0.2mm(1x8mil)带槽; 

在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅱ(取代组件Ⅰ)有以下组成: 

0.1mm(4mil); 0.2mm(8mil); 0.3mm(12mil)圆形; 0.05x0.3mm(2x12mil)带槽; 

在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅲ(取代组件Ⅰ)有以下组成: 

0.2mm(8mil);圆形; 0.05x0.05mm(2x2mil);0.025X0.025mm(2X2mils)方型;0.03mmX0.2mm(1.2X8mil)带槽; 

注:当测量PC印板,电脑接插件,引线框架等小工件时,推荐使用视准器组件Ⅰ 

10.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用; 

11.充氙气的比例计数器,频谱处理时,内部采用4096通道的ADC,对外显示为256通道; 

12.快速编程,高精确度,电机带动的XY工作台运行范围: 

型号XDVM®-T7.1:X=175mm(7.0〃), Y=175mm(7.0〃) 

型号XDVM®-T7: X=250mm(10.0〃), Y=250mm(10.0〃) 

13.工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆 

14.工作台面板可自动移出至工件放置位置;定位容易; 

15.电机驱动及高度(Z-轴)可编程的X-射线头部(X-射线管,比例计数器及视准器组件);Z-轴运行=145mm(5.9〞); 

16.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看;可选择的双重放大率X40/X80,带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示; 

17.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择,操纵杆控制X-Y工作台,钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动,LED状态指示灯。 


相关X射线荧光测厚仪