技术参数：

1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法，符合技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568； 

2.测量箱结构坚固，使用合格的机械和电气部件； 

3.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）720 mm×660 mm×950 mm，重量大约为90kg； 

4.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）140mm×560 mm×530 mm，带向上回转箱门； 

5.原始射线从上至下； 

6.高性能的X-射线管，高压及电流设定可调节至最佳的应用，高压设定：50kV，40kV或30kV；阳极电流：连续可调至0.8mA； 

7.最小测量点: 50×100um 

8.聚焦范围: 2.5 mm 

9.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用； 

10.高能量解像度的半导体接受器带帕耳帖冷却；内部光谱处理的ADC的通道为4096，压缩为1024个输出通道；； 

11.快速编程，高精确度，电机带动的XY工作台运行范围： 

X=250mm， Y=220mm. ；定位精度0.005mm； 

工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆 

工作台面板可自动移出至工件放置位置；定位容易； 

12.电机驱动及高度（Z-轴）Z-轴运行=95mm； 

13.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看；可选择的双重放大率30-1108倍，带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示； 

14.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择，操纵杆控制X-Y工作台，钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动，LED状态指示灯。