差热分析是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
仪器特点:
1:仪器主控芯片采用Cortex-M3内核ARM控制器,运算处理速度更快,温度控制更精确。
2:采用USB双向通讯,操作更便捷。
3:采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏,界面更友好。
4:采用铂铑合金传感器,更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。